脑出血(ICH)是脑卒中第二大常见病因,在我国卒中病人中占20%左右,具有预后差,致残率和死亡率高的特点。近期,浙江大学医学院附属第二医院神经内科高峰、童璐莎团队的最新研究成果发现,磁共振上提示脑出血不良转归的指标可能与糖代谢异常——胰岛素抵抗有关。随着磁共振成像影像技术在脑出血中广泛应用,大约1/5的脑出血患者在磁共振弥散加权成像(DWI)上可以检测到血肿远隔部位高信号病灶(R-DWIL)。这种病灶常表现为点状,多位于脑叶的皮层或皮层下区域(图1),这些病灶大多不引起即刻的神经功能缺损症状,却与患者的近远期预后相关,是脑出血预后不良的临床标志物。既往研究表明与R-DWIL发生相关的因素包括基础脑小血管病、强化降压、肾功能异常等。...